三次元影像儀是檢測工件尺寸與形位誤差的儀器,首要的是精度指標應滿足用戶要求。選用時,一般可根據被測工件要求的檢測精度與測量機給定的測量不確定度相對比,看測量機精度是否符合要求。下面小編分享關于三次元影像儀的測量精度以及測量范圍的內容,歡迎閱讀!
三次元影像儀的測量精度:
三次元影像儀是檢測工件尺寸與形位誤差的儀器,首要的是精度指標應滿足用戶要求。選用時,一般可根據被測工件要求的檢測精度與測量機給定的測量不確定度相對比,看測量機精度是否符合要求。
精度比對不是一個簡單的比較過程。測量機的技術規范中一般只給出單軸測長和空間測長的兩個不確定度公式及重復精度值。但在具體測件時需要將被測參數的測量不確定度限制在一定范圍內。一般測量時,要測量很多測點。在形位測量時,更有大量測點參與并帶來測量誤差,精確計算是很難的。因此從經驗出發,在一般測量中,測量不確定度應為被測工件尺寸公差帶的1/5~1/3。例如某一被測箱體上二孔的孔距為500mm,公差帶為15μm,則所選用的測量機在500mm長度上的測量不確定度應不大于3μm~5μm。對于精密測量及復雜的形位測量要求還高,一般應為被測尺寸公差帶的1/10~1/5。重要的是重復精度必須滿足要求,因為系統誤差還可以通過一定方法補償,而重復精度應由測量機本身保證。
總之,用戶應選用精度(包括重復精度)高一些的OPTEK自動影像儀。這不僅由于測量復雜件時,測點可能帶入的誤差比預想的要大(由于測頭測桿變化或加長會引入更大的誤差),而且測量機的精度會隨使用次數增多而有所下降。
三次元影像儀的測量范圍:
三次元影像儀測量范圍的選擇時選擇測量機時的基本參數。因為在測量范圍內才能獲得精確的測量值,超出了范圍,測量就難于進行。選擇測量范圍時,應考慮以下幾個方面。
1、工件的所需測量的部分,不一定是整個工件。如要測的部分集中在工件的某個局部,除了測量機的測量范圍能覆蓋被測參數之外,還要考慮整個工件能在測量機上安置,要求工件重量對測量精度不帶來顯著影響。為了把工件放入測量機中,應根據工件大小選擇測量機。
2、Z軸與Z向空間高度的關系。Z軸行程是Z軸的測量范圍,而Z向空間高度是工件能放得下的高度,
3、加長桿的問題。有的測頭上有星形探針,這些探針在測量時往往要求超出工件的被測部分。一般工件尺寸為l時,要求測量范圍L=l 2C,C為探針的長度。因此測量范圍等于工件被測的zui大尺寸再加上兩倍的探針長度。
感謝閱讀,以上就是對三次元影像儀的測量精度以及測量范圍的介紹,部分內容來自網絡,僅供參考。如果您想了解更多有關三次元影像儀的詳細事宜,歡迎致電詳詢,竭誠為您服務。
三次元影像儀是檢測工件尺寸與形位誤差的儀器,首要的是精度指標應滿足用戶要求。選用時,一般可根據被測工件要求的檢測精度與測量機給定的測量不確定度相對比,看測量機精度是否符合要求。下面小編分享關于三次元影像儀的測量精度以及測量范圍的內容,歡迎閱讀!
三次元影像儀的測量精度:
三次元影像儀是檢測工件尺寸與形位誤差的儀器,首要的是精度指標應滿足用戶要求。選用時,一般可根據被測工件要求的檢測精度與測量機給定的測量不確定度相對比,看測量機精度是否符合要求。
精度比對不是一個簡單的比較過程。測量機的技術規范中一般只給出單軸測長和空間測長的兩個不確定度公式及重復精度值。但在具體測件時需要將被測參數的測量不確定度限制在一定范圍內。一般測量時,要測量很多測點。在形位測量時,更有大量測點參與并帶來測量誤差,精確計算是很難的。因此從經驗出發,在一般測量中,測量不確定度應為被測工件尺寸公差帶的1/5~1/3。例如某一被測箱體上二孔的孔距為500mm,公差帶為15μm,則所選用的測量機在500mm長度上的測量不確定度應不大于3μm~5μm。對于精密測量及復雜的形位測量要求還高,一般應為被測尺寸公差帶的1/10~1/5。重要的是重復精度必須滿足要求,因為系統誤差還可以通過一定方法補償,而重復精度應由測量機本身保證。
總之,用戶應選用精度(包括重復精度)高一些的OPTEK自動影像儀。這不僅由于測量復雜件時,測點可能帶入的誤差比預想的要大(由于測頭測桿變化或加長會引入更大的誤差),而且測量機的精度會隨使用次數增多而有所下降。
三次元影像儀的測量范圍:
三次元影像儀測量范圍的選擇時選擇測量機時的基本參數。因為在測量范圍內才能獲得精確的測量值,超出了范圍,測量就難于進行。選擇測量范圍時,應考慮以下幾個方面。
1、工件的所需測量的部分,不一定是整個工件。如要測的部分集中在工件的某個局部,除了測量機的測量范圍能覆蓋被測參數之外,還要考慮整個工件能在測量機上安置,要求工件重量對測量精度不帶來顯著影響。為了把工件放入測量機中,應根據工件大小選擇測量機。
2、Z軸與Z向空間高度的關系。Z軸行程是Z軸的測量范圍,而Z向空間高度是工件能放得下的高度,
3、加長桿的問題。有的測頭上有星形探針,這些探針在測量時往往要求超出工件的被測部分。一般工件尺寸為l時,要求測量范圍L=l 2C,C為探針的長度。因此測量范圍等于工件被測的zui大尺寸再加上兩倍的探針長度。
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